新能源汽车MCU产线老化&EOL下线功能测试方法

新能源汽车MCU产线老化&EOL下线功能测试方案：

新能源汽车电机控制器(MCU)产线老化&EOL下线功能测试主要是在MCU完成装配后，对MCU进行老化测试和功能测试。以保证MCU的生产质量和0公里PPM。

这个测试系统由2部分组成：MCU老化测试系统和MCU功能测试系统。测试过程操作简易，以便于满足生产节拍要求和产线易操作的要求。所有测试数据可以追踪和保存，并可打印出每个产品的测试数据单。

新能源汽车电机控制器(MCU)产线老化&EOL下线功能测试系统应包含：

• MCU自动连接系统，实现水路和电气回路的全自动连接，降低人员搬运的难度和成本；
• 自动加载系统，实现电机控制器MCU的指定加载，实现加速、低速、高速、制动等多种工况的验证；
• 保护功能测试，实现MCU保护电路功能的验证；
• 电安全测试，实现国标规定的法规项目的测试；
• 内部诊断测试，实现MCU内部诊断的测试和验证；
• MCU标定相关功能测试，实现MCU内部的功能诊断；
• 自动连接MES系统，实现MES交互和控制，以及测试结果的上传和交互。
• 其他安全防护功能。